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タイトル: Analysis of RF Reflection Method for MOSFET Electrometer Fabricated by Standard Integrated-Circuit Technology
著者: Inokawa, Hiroshi
Kawai, Mitsuru
Satoh, Hiroaki
掲載誌名: International Journal of ChemTech Research
出版者: Sphinx Knowledge House
巻: 7
号: 3
開始ページ: 1623
終了ページ: 1627
出版日付: 2015-02
NDC: 549
ISSN: 09744290 OPAC
バージョン: publisher
出現コレクション:21. 雑誌論文・記事(Journal Article, Article, Preprint)

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Others By: Inokawa, Hiroshi (猪川, 洋) (イノカワ, ヒロシ) -- Kawai, Mitsuru (河合, 満) (カワイ, ミツル) -- Satoh, Hiroaki (佐藤, 弘明) (サトウ, ヒロアキ)

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