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静岡大学電子工学研究所研究報告 (1966-2003) >
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タイトル: シリコン多重ドット構造における単電子伝導のシミュレーション解析と光照射効果への適用
その他のタイトル: Circuit Modeling of Photoinduced Effects on Single-Charge Tunneling in a Silicon Multidot Structure
著者: 池田, 浩也
石川, 靖彦
Nuryadi, Ratno
掲載誌名: 静岡大学電子工学研究所研究報告
出版者: 静岡大学電子工学研究所
巻: 38
開始ページ: 21
終了ページ: 25
出版日付: 2004-03-24
NDC: 540
ISSN: 02863383 OPAC
NII論文ID: 110000458670 ciniia
NII書誌ID: AN00103204 OPAC ciniib
バージョン: publisher
出現コレクション:2003 38

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Others By: 池田, 浩也 (イケダ, ヒロヤ) (Ikeda, Hiroya) -- 石川, 靖彦 (イシカワ, ヤスヒコ) (Ishikawa, Yasuhiko) -- Nuryadi, Ratno (ラトノ, ヌルヤディ) (ラトノ, ヌルヤディ) (Ratno, Nuryadi)

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